1. Фотоэлектронная спектроскопия внутренних уровней и валентной зоны (XPS, UPS)

3. Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением (ARPES)

4. Фотоэлектронная спектроскопия со спиновым разрешением (Spin-resolved PES)

5. Оже-электронная спектроскопия с участием электронов внутренних уровней и валентной зоны (Оже-спектроскопия)

6. Спектроскопия поглощения рентгеновского излучения (NEXAFS)

7. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов (REELS)

8. Дифракция медленных электронов (LEED)

9. Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия (STM, AFM)

 

1. Расчеты "из первых принципов" в рамках теории функционала электронной плотности (Density functional theory (DFT) calculations)